4핀 포고핀 커넥터 플러그인 타입

하우징: PPA, PA46, PA9T, LCP
포고 핀 OEM 팩: 대부분: 알루미늄 호일 백.
 릴: 직경 Φ330mm; 캐리어 테이프 너비: 12, 16, 24, 32, 44mm.
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제품 테스트 소개 전기적 성능 | 1 | 접촉 임피던스 | 작동 스트로크에서 최대 30mohm | Top-Link 공장 테스트 표준* | 2 | 절연 저항 | 500 Mohm 분 | EIA-364-21 | 3 | 유전체 내전압 | 플래시오버, 공기 방출, 고장 또는 누출 없음 | EIA-364-20 | 4 | 온도 상승 대비 전류 정격 | 최대 30 °C 지정된 전류에서의 온도 상승 | EIA-364-70 | 기계적 성능 | 1 | 스프링 힘 | 제품 도면을 참조하세요 | EIA-364-04 | 2 | 유지력 | 0.5Kgf(4.5N)최소 | EIA-364-29 | 3 | 내구성 | 10,000 사이클 최소 물리적 손상 없음 시험 후 저항은 최대 30 mohm입니다. | EIA-364-09 | 4 | 진동 | 물리적 손상 없음, 1초 이상의 전기적 불연속 없음. | EIA-364-28 | 5 | 기계적 충격 | 물리적 손상 없음, 1초 이상의 전기적 불연속 없음. | EIA-364-27 방법 A | 환경 | 1 | 납땜성 | 솔더 피복 면적 최소 95% | EIA-364-52 | 2 | 염분 분무 부식 | 물리적 손상 없음. 테스트 후 저항은 최대 100mΩ입니다. | EIA-364-26 조건 B | 3 | 납땜 열(IR/대류)에 대한 저항성 | 균열, 칩, 용융, 물집 없음 | EIA-364-56 | 4 | 습기 | 물리적 손상 없음, 테스트 후 저항은 최대 100 mohm입니다. | EIA-364-31, 방법 ii, 조건 A | 5 | 열충격 | 물리적 손상 없음, 테스트 후 저항은 최대 100 mohm입니다. | EIA-364-32, 방법 ii | 6 | 온도 수명 | 물리적 손상 없음, 테스트 후 저항은 최대 100 mohm입니다. | EIA-364-17, 조건 A, 조건 4 | 환경 | 1 | 껍질을 벗기는 힘 | 10~130g | EIA-481 | 2 | 낙하 테스트 | | Molex의 낙하 테스트 표준을 참조하세요. | - 주목:시험 장소와 실제 작업 장소의 차이를 고려하여 Top-Link에서 정의한 임피던스 시험 조건은 전체 작업 스트로크를 기준으로 합니다. 이는 일반적으로 동적 임피던스 시험이라고 하며, ELA-364923의 정적 시험 조건과는 다릅니다. 내구성 시험 표준 또한 이 시험 조건을 기반으로 합니다.
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- KLS는 포괄적인 검사 및 신뢰성 시험 장비를 갖추고 있습니다.
- KLS는 IQC, IPQC, 스프링 힘과 접촉 임피던스의 100% 동적 테스트, 100% 외관 검사, FQC 샘플링 검사, CQC, 설계 검증, 정기적 신뢰성 테스트, 고장 분석 등 각 링크의 품질 관리를 매우 중요시합니다.
- KLS는 제품 설계, 샘플 준비, 시제품 생산, 양산에 이르기까지 모든 단계에 걸쳐 엄격하고 효과적인 품질 관리를 시행하고 있습니다. 이를 통해 제품 품질이 보장됩니다.
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- 포고핀 커넥터 OEM 유형
1, 소구경, 미세형 제품 최소한 0.75 이하로 할 수 있습니다. 2, 높은 내구성 최대 100만회의 내구성 3, 대전류 최대 15A 전류 4, 높은 신뢰성 100% 동적 임피던스 테스트를 통해 100% 기능적 결함 없음 보장 5, 낮은 작동 높이 최소 작업 높이 최대 1.5mm, 도마를 더 낮게 할 수 있습니다. 6, 높은 정밀도(크기 및 전진력) 높이 허용 오차는 최대 +, – 0.05mm, 최대 + / – 10% 7, 비표준 구조 고객 요구 사항은 버섯 머리 구조와 같이 고객 요구 사항에 따라 맞춤화될 수 있습니다. |